高加速应力试验HAST
简要介绍:加速寿命试验的目的是提高环境应力(如:温度)与工作应力(施加给产品的电压、负荷.等),加快试验过程,缩短产品或系统的寿命试验时间。用于调查分析何时出现电子元器件,和机械零件的摩耗和使用寿命的问题,使用寿命的故障分布函数呈什么样的形状,以及分析失效率上升的原因所进行的试验
 
应用领域:IC半导体、连接器、线路板、磁性材料、高分子材料、EVA、光伏组件等。
 
主要仪器:高加速应力(HAST)试验箱。
 
参考标准: GB/T 2423.40,IEC 60068-2-66,JESD22-A102等 。
 
案例介绍:
点击数:4748  录入时间:2016-2-16 【打印此页】 【返回