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高加速寿命试验HALT

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高加速寿命试验HALT

利用高环境应力,提早使产品设计缺陷被激发出来,从而消除缺陷,大大提高设计可靠性。
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项目介绍

高加速寿命试验HALT


简要介绍:

高加速寿命试验英文简称为HALT,与传统的可靠性试验相比,HALT试验的目的是激发故障,即把产品潜在的缺陷激发成可观测的故障。因此,它不是采用一般模拟实际使用环境进行的试验,而是人为施加步进应力,在远大于技术条件规定的极限应力下快速进行试验,找出产品的各种工作极限与破坏极限。HALT试验有如下优点:利用高环境应力,提早使产品设计缺陷被激发出来,从而消除缺陷,大大提高设计可靠性。产品的设计周期大大减少。生产费用大大降低。因为交付的产品具备更高的可靠性,所以维修费用大大降低。


应用领域:

汽车产品、电子电气零部件、通讯产品、航空器材、PCB、PCBA、仪器仪表、家用电器、医疗器械等。


参考标准:

GB/T 29309等。


主要仪器:

高加速寿命(HALT)试验箱。 

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