简要介绍：加速寿命试验的目的是提高环境应力(如：温度)与工作应力(施加给产品的电压、负荷.等)，加快试验过程，缩短产品或系统的寿命试验时间。用于调查分析何时出现电子元器件，和机械零件的摩耗和使用寿命的问题，使用寿命的故障分布函数呈什么样的形状，以及分析失效率上升的原因所进行的试验
应用领域：IC半导体、连接器、线路板、磁性材料、高分子材料、EVA、光伏组件等。
主要仪器：高加速应力（HAST）试验箱。
参考标准： GB/T 2423.40，IEC 60068-2-66，JESD22-A102等 。
案例介绍：
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